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單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高水平的程度。儀器利用高次譜線進行準確的定性/定量分析，高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。利用單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù)法；使用單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀進行的膜厚測定、薄膜測定實例。對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品...

xrf分析儀曲線漂移的原因分析：1.要把漂移的原因搞清楚，是xrf分析儀（參數(shù)）原因還是環(huán)境（氣、電、溫度等）；熔融法做類標，風險稍大，熔融法不象直讀光譜，標樣穩(wěn)定，且基體大多情況不一致。2.雖說對于熔融法,類型標準化沒有什么理論根據(jù),但有時確實起到很好的效果,并不是不可用,但要確認儀器本身正常且穩(wěn)定。對于校正xrf分析儀漂移的試樣,要看強度值有多高,如果單點校正的強度值過低,可能會出現(xiàn)較大的問題,單點漂移校正的強度接近曲線的上端強度,相對誤差會小一些,用兩點校正儀器漂移。曲...

工業(yè)X射線衍射儀適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。X射線衍射術(shù)是一種應用于材料分析的高科技無損檢測方法，可以采用這種方法進行分析研究的材料范圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽能電池和半導體等。X射線衍射方法的應用遍及工業(yè)和科研院所，現(xiàn)已成為一種*的材料研究表征和質(zhì)量控制手段。具體應用范圍包括定性和定量相分析、晶體分析、結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應力分析、受控樣品環(huán)境、微區(qū)衍射、納米材料、實驗和過程的自動控制以及高處理量多形...

過去對環(huán)境的評估只能依賴于在實驗室對從現(xiàn)場采集并運送到實驗室的樣件所做的分析，現(xiàn)如今xrf分析儀的出現(xiàn)，能夠在現(xiàn)場直接對環(huán)境進行評估，經(jīng)濟及時有效。xrf分析儀對于環(huán)境檢測有非比尋常的意義，主要包括以下幾個方面：1、社區(qū)與居住區(qū)域的發(fā)展xrf分析儀可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量，在整修學校、社區(qū)中心、住宅、游樂場及運動場或者是垃圾填埋場、工業(yè)場址、果園、飼養(yǎng)場等地方，它都是一件*的工具。2、城市周邊地區(qū)的農(nóng)業(yè)及農(nóng)藝學隨著世界人口的增長，食物來源的安全性也變得越...

x射線衍射操作實驗樣品制備要求如下：1.金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于15x20毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。2.對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常。因此要求測試時合理選擇相應的方向平面。3.對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。4.粉末樣品要求磨成－320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強度底，峰形不好，分辨率低。要了...