工業(yè)X射線衍射儀是進行X射線分析的重要設備，主要由X射線發(fā)生器、測角儀、記錄儀和水冷卻系統(tǒng)組成。工業(yè)X射線衍射儀帶有條件輸入和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。工業(yè)X射線衍射儀的X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置，由X光管發(fā)射出的X射線包括連續(xù)X射線光譜和特征X射線光譜，連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對稱性和進行晶體定向的勞埃法，特征X射線用于進行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進行物相鑒定的粉末法。
　　工業(yè)X射線衍射儀可用于點陣常數(shù)的測定：
　　點陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)，測定點陣常數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應用。點陣常數(shù)的測定是通過X射線衍射線的位置（θ）的測定而獲得的，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數(shù)值。點陣常數(shù)測定中的度涉及兩個獨立的問題，即波長的精度和布拉格角的測量精度。波長的問題主要是X射線譜學家的責任，衍射工作者的任務是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應的關(guān)系。知道每根反射線的密勒指數(shù)后就可以根據(jù)不同的晶系用相應的公式計算點陣常數(shù)。晶面間距測量的精度隨θ角的增加而增加，θ越大得到的點陣常數(shù)值越，因而點陣常數(shù)測定時應選用高角度衍射線。誤差一般采用圖解外推法和zui小二乘法來消除，點陣常數(shù)測定的度極限處在1×10-5附近。